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文章來(lái)源 : 廣東優(yōu)科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間：2023-05-22 瀏覽數(shù)量：
電子元器件的二次篩選是指在元器件廠家篩選的基礎(chǔ)上，由使用方或其委托的第三方對(duì)電子元器件進(jìn)行的篩選。二次篩選是在電子元器件各種失效模式的基礎(chǔ)上，進(jìn)行的一系列有針對(duì)性的試驗(yàn)，從而達(dá)到有效剔除早期失效的目的。
優(yōu)科檢測(cè)是獲得CNAS、DILAC等實(shí)驗(yàn)室資質(zhì)認(rèn)可的專業(yè)第三方電子元器件檢測(cè)機(jī)構(gòu)，可提供集成電路、分立器件以及電阻電容電感元件等各類電子元器件二次篩選服務(wù)，根據(jù)客戶產(chǎn)品的特點(diǎn)以及相應(yīng)要求，公司能夠?yàn)槠髽I(yè)提供定制化服務(wù)。
接下來(lái)為大家介紹常見(jiàn)元器件二次篩選項(xiàng)目及檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)。
1、檢查篩選：顯微鏡檢查、紅外線非破壞檢查、X射線非破壞性檢查等
2、密封性篩選：浸液檢漏篩選、氦質(zhì)譜儀檢漏篩選、放射性篩選、氣泡篩選、氣泡法、示蹤檢漏法等
3、環(huán)境應(yīng)力篩選：高溫老化、溫度循環(huán)、溫度沖擊、正弦掃頻、隨機(jī)振動(dòng)、沖擊、離心加速度等
4、壽命篩選：高溫貯存、低溫貯存、老煉篩選、精密篩選、線性判別等
5、電測(cè)試篩選等
1. 檢測(cè)通用標(biāo)準(zhǔn)：GJB360B、GJB128、GJB548、GJB4027、GJB1217、 MIL-STD-1580(MIL-STD-1580B)、MIL-STD-202, MIL-STD-750(MIL-STD-750E:2006)、MIL-STD-883(MIL-STD-883K:2016)
2. 通用檢測(cè)規(guī)范：GJB924A2 類瓷介固定電容器、GJB973A 柔軟和半硬射頻電纜通用規(guī)范、GJB7704 軍用 CPU 測(cè)試方法、GB/T17574、GB/T17940、GB/T4586、GB/T4587、GB/T6571、GB/T 10320、GB/T 21548、GB/T 3048、GB/T 15175、GB/T 6571、GB 7247.13-2013/IEC60825-13:2011(IDT)
3. 專用參數(shù)測(cè)試類規(guī)范：GB/T7922、GB/T31359、GB/T14077、GB/T26184、GB/T27662、GB/T11168、GB/T17736、GB/T13739、GB/T26178、GB/T11297、GB/T1031、GB 1185、JB/T 9495、GJB 1487、GJB894A、NASA/TP-2003-212244、OJ10005A、SJ20762
4. 檢測(cè)能力非標(biāo)準(zhǔn)方法：GB/T6798、SJ/T10738、GB/T 4377、GB/T 14028SJ/T10741、SJ/T10735
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