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電子元器件高溫存儲試驗第三方檢測機構(gòu)

電子元器件可靠性試驗是電子設(shè)備可靠性的基礎(chǔ)，電子元器件高溫存儲試驗是將元器件暴露在高溫環(huán)境中，以此來評價元器件在高溫工作環(huán)境中遇到的運輸、儲存、使用環(huán)境條件下的性能。

優(yōu)科檢測是專業(yè)第三方電子元器件環(huán)境可靠性試驗檢測機構(gòu)，實驗室具備電子元器件氣候環(huán)境試驗、綜合環(huán)境試驗、機械環(huán)境試驗檢測資質(zhì)和檢測能力，可提供電子元器件高溫存儲試驗第三方檢測服務(wù)，并可出具國家承認的中文或英文檢測報告。

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電子元器件的失效很多是由于環(huán)境溫度造成體內(nèi)和表面的各種物理、化學變化所引起的。溫度升高后，使得化學反應(yīng)速率大大加快，其失效過程也得到加速，使有缺陷的元器件能及時暴露。

通過提高元器件環(huán)境溫度，加速元器件中可能發(fā)生或存在的任何化學反應(yīng)過程（如由水汽或其他離子所引起的腐蝕作用，表面漏電、沾污以及金-鋁之間金屬化合物的生成等），使具有潛在缺陷的元器件提前失效而剔除。

高溫貯存試驗對于表面沾污、引線鍵合不良和氧化層缺陷等都有很好的篩選作用。

試驗原理

高溫貯存是在試驗箱內(nèi)模擬高溫條件，對元器件施加高溫應(yīng)力（不加電應(yīng)力），使得元器件體內(nèi)和表面的各種物理、化學變化的化學反應(yīng)速率大大加快，其失效過程也得到加速，使有缺陷的元器件能盡早暴露。

高溫貯存篩選的特點：

1. 最大的優(yōu)點是操作簡便易行，可以大批量進行，投資少，其篩選效果也不差，因而是目前比較普遍采用的篩選試驗項目。

2. 通過高溫貯存還可以使元器件的性能參數(shù)穩(wěn)定下來，減少使用中的參數(shù)漂移，故在GJB548中也把高溫貯存試驗稱為穩(wěn)定性烘焙試驗。

3. 對于工藝和設(shè)計水平較高的成熟器件，由于器件本身已很穩(wěn)定，所以做高溫存貯篩選效果很差，篩選率幾乎為零。

可能暴露的缺陷

元器件的電穩(wěn)定性、金屬化、硅腐蝕和引線鍵合缺陷等。

注意事項

1. 溫度-時間應(yīng)力的確定

在不損害半導(dǎo)體器件的情況下篩選溫度越高越好，因此應(yīng)盡可能提高貯存溫度。貯存溫度需根據(jù)管殼結(jié)構(gòu)、材料性質(zhì)、組裝和密封工藝而定，同時還應(yīng)特別注意溫度和時間的合理確定。有一種誤解認為溫度越高、時間越長篩選考驗就越嚴格，這是錯誤的。確定溫度、時間對應(yīng)關(guān)系的原則是：保持對元器件施加的應(yīng)力強度不能變，即如果提高了貯存溫度，則應(yīng)減少貯存時間。

2、高溫貯存多數(shù)在封裝后進行，半導(dǎo)體器件也有在封裝前的圓片階段或鍵合后進行，或封裝前后都進行。

3、國軍標中規(guī)定高溫貯存試驗結(jié)束后，必須在96 小時內(nèi)完畢對元器件的測試對比。

我們的優(yōu)勢

1. 專家團隊

可靠性檢測專家、定制化服務(wù)、專業(yè)人員技術(shù)培訓服務(wù)，擁有多名航空、航天電子元器件質(zhì)量可靠性專組成的專家團隊50余人。

2. 專業(yè)設(shè)備

配備各種規(guī)格的集成電路測試系統(tǒng)，老煉箱50余臺、各類環(huán)境箱體20臺套、機械性能與可靠性檢測設(shè)備30臺套、半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)、模擬器件測試系統(tǒng)、檢漏系統(tǒng)、PIND顆粒碰撞檢測設(shè)備等。

3. 一站式方案服務(wù)

依據(jù)客戶產(chǎn)品規(guī)格，準確制定元器件的篩選方案和規(guī)程\依據(jù)篩選結(jié)果，準確定位元器件失效機理，并依據(jù)客戶需求給出元器件失效分析方案。

4. 權(quán)威保障

軍用級檢測體系控制+軍方實驗室認可檢測設(shè)備，保證測試流程和測試精度，第三方公正檢測機構(gòu)。