薄膜固定電阻器GJB244A二篩機(jī)構(gòu)
優(yōu)科檢測是專業(yè)第三方電子元器件二次篩選機(jī)構(gòu)，實(shí)驗(yàn)室具備GJB 244A-2001標(biāo)準(zhǔn)CNAS檢測資質(zhì)及其他軍工篩選檢測資質(zhì)，可提供薄膜固定電阻器GJB244A二篩服務(wù)。
薄膜固定電阻器二篩依據(jù)
GJB 244A-2001 《有質(zhì)量等級的薄膜固定電阻器總規(guī)范》
薄膜固定電阻器二篩主要項(xiàng)目及方法
1. 外觀及機(jī)械檢查
10 倍放大鏡或顯微鏡檢查標(biāo)志及外部結(jié)構(gòu)質(zhì)量，應(yīng)符合產(chǎn)品規(guī)范規(guī)定。
2. 溫度沖擊
電阻器溫度沖擊的高、低溫按下表規(guī)定，高溫-室溫-低溫為一次循環(huán)。
3. 過載
4. 功率老練
5. 密封試驗(yàn)
適用于氣密性電阻器
元器件篩選應(yīng)遵循原則
1. 對元器件具有破壞性的試驗(yàn)或檢驗(yàn)不得列為篩選項(xiàng)目；
2. 篩選所加的應(yīng)力（電應(yīng)力、機(jī)械應(yīng)力、環(huán)境應(yīng)力等）不得超過產(chǎn)品規(guī)范規(guī)定的元器件額定應(yīng)力。
元器件二次篩選流程
1. 收樣、標(biāo)識、入庫、入系統(tǒng)；
2. 目檢；
3. 電參數(shù)測試：按照產(chǎn)品規(guī)格書電性能或電氣性能測試；
4. 老練篩選：高溫、反偏、功率等；
5. 環(huán)境應(yīng)力測試：振動、沖擊、離心加速度、溫度循環(huán)；
6. 密封性檢查：粗細(xì)檢漏、PIND；
7. 三溫電參數(shù)測試：按照產(chǎn)品規(guī)格書電性能或電氣性能測試
6. 打點(diǎn)、封裝、出庫。
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